8 इंच सिलिकॉन वेफर P/N-प्रकार (100) 1-100Ω डमी रिक्लेम सब्सट्रेट

संक्षिप्त वर्णन:

दुहेरी बाजू असलेल्या पॉलिश वेफर्सची मोठी यादी, 50 ते 400 मिमी व्यासाचे सर्व वेफर्स जर तुमचे तपशील आमच्या इन्व्हेंटरीमध्ये उपलब्ध नसतील, तर आम्ही अनेक पुरवठादारांशी दीर्घकालीन संबंध प्रस्थापित केले आहेत जे कोणत्याही विशिष्ट वैशिष्ट्यात बसण्यासाठी वेफर्स सानुकूल करण्यास सक्षम आहेत.सेमीकंडक्टर उद्योगात सामान्यतः वापरल्या जाणाऱ्या सिलिकॉन, काच आणि इतर सामग्रीसाठी डबल-साइड पॉलिश केलेले वेफर्स वापरले जाऊ शकतात.

आम्हाला ईमेल पाठवा

उत्पादन तपशील

उत्पादन टॅग

वेफर बॉक्सचा परिचय

8-इंच सिलिकॉन वेफर हे सामान्यतः वापरले जाणारे सिलिकॉन सब्सट्रेट मटेरियल आहे आणि एकात्मिक सर्किट्सच्या उत्पादन प्रक्रियेत मोठ्या प्रमाणावर वापरले जाते.अशा सिलिकॉन वेफर्सचा वापर सामान्यतः मायक्रोप्रोसेसर, मेमरी चिप्स, सेन्सर्स आणि इतर इलेक्ट्रॉनिक उपकरणांसह विविध प्रकारचे इंटिग्रेटेड सर्किट्स बनवण्यासाठी केला जातो.8-इंच सिलिकॉन वेफर्सचा वापर सामान्यतः तुलनेने मोठ्या आकाराच्या चिप्स बनवण्यासाठी केला जातो, ज्यामध्ये मोठ्या पृष्ठभागाचे क्षेत्रफळ आणि एकाच सिलिकॉन वेफरवर अधिक चिप्स बनविण्याची क्षमता यासह फायदे आहेत, ज्यामुळे उत्पादन कार्यक्षमता वाढते.8-इंच सिलिकॉन वेफरमध्ये चांगले यांत्रिक आणि रासायनिक गुणधर्म देखील आहेत, जे मोठ्या प्रमाणात एकात्मिक सर्किट उत्पादनासाठी योग्य आहेत.

उत्पादन वैशिष्ट्ये

8" P/N प्रकार, पॉलिश सिलिकॉन वेफर (25 pcs)

अभिमुखता: 200

प्रतिरोधकता: 0.1 - 40 ohm•cm (ते बॅचनुसार बदलू शकते)

जाडी: 725+/-20um

प्राइम/मॉनिटर/चाचणी ग्रेड

भौतिक गुणधर्म

पॅरामीटर	वैशिष्ट्यपूर्ण
प्रकार/डोपंट	पी, बोरॉन एन, फॉस्फरस एन, अँटिमनी एन, आर्सेनिक
अभिमुखता	<100>, <111> ग्राहकाच्या वैशिष्ट्यांनुसार ओरिएंटेशनचे तुकडे करा
ऑक्सिजन सामग्री	10¹⁹ppmA कस्टम सहिष्णुता प्रति ग्राहकाच्या तपशील
कार्बन सामग्री	< ०.६ ppmA

यांत्रिक गुणधर्म

पॅरामीटर	प्राइम	मॉनिटर/चाचणी ए	चाचणी
व्यासाचा	200±0.2 मिमी	200 ± 0.2 मिमी	200 ± 0.5 मिमी
जाडी	725±20µm (मानक)	725±25µm(मानक) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (मानक)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
धनुष्य	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
लपेटणे	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
काठ गोलाकार	सेमी-एसटीडी
चिन्हांकित करणे	फक्त प्राथमिक सेमी-फ्लॅट, सेमी-एसटीडी फ्लॅट्स जेडा फ्लॅट, नॉच

पॅरामीटर	प्राइम	मॉनिटर/चाचणी ए	चाचणी
समोरच्या बाजूचे निकष
पृष्ठभागाची स्थिती	केमिकल मेकॅनिकल पॉलिश	केमिकल मेकॅनिकल पॉलिश	केमिकल मेकॅनिकल पॉलिश
पृष्ठभागीय खडबडीतपणा	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
घाण कण @ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
धुके, खड्डे संत्र्याची साल	काहीही नाही	काहीही नाही	काहीही नाही
पाहिले, खुणा स्ट्रायशन्स	काहीही नाही	काहीही नाही	काहीही नाही
मागील बाजूचे निकष
क्रॅक, कावळे, करवतीच्या खुणा, डाग	काहीही नाही	काहीही नाही	काहीही नाही
पृष्ठभागाची स्थिती	कॉस्टिक कोरलेले